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簡(jiǎn)單介紹:
SP-601型方形四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的方型四探針測(cè)試探頭,專用于測(cè)量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
詳情介紹:
SP-601型方形四探針探頭
SP-601型方形四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的方型四探針測(cè)試探頭,專用于測(cè)量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
SP-601型方形四探針探頭特性及規(guī)格:
1;特制之手握式探筆
2;球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷
3;探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4;探頭使用壽命長(zhǎng)
5;探針間距:1.59mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
SP-601型方形四探針探頭
型號(hào) |
曲率半徑 |
壓力 |
探針間距 |
探針排列 |
SP-601 |
0.5mm |
100g |
1.59mm |
方形 |